SciAps X-50 для анализа автокатализаторов и радиолома.

«Классическая» модель рентгено-флуоресцентного анализатора для множества применений за бюджетную цену

Области применения: Автокатализаторы, сплавы, геохимия, почвы, драгметаллы, RoHs.

X-50 оснащен полупроводниковым PiN детектором, эта технология была популярна в прошлом до появления кремниевых дрейфовых детекторов. Технология PiN обрабатывает сигналы от элементов в 10×20 раз хуже, чем кремниевые дрейфовые детекторы, и имеет разрешение, которое на 100 эВ меньше (большая ширина). Однако для многих применений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или анализ базовых или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках, анализ драгметаллов, баббитов, RoHS и.т.д технология PiN детектора является вполне достаточной. X-50 НЕ будет измерять Mg, Al или Si, а в некоторых материалах можно измерить P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения для некоторых элементов будут в 5 раз выше по сравнению с моделями анализаторов X c дрейфовым детектором SDD. Однако X-50 имеет привлекательную цену и отлично работает для многих задач. X-50 включает ту же самую современную рентгеновскую трубку, что и другие модели X-серии, (работающие с напряжением 50кВ), встроенную фото камеру и платформу Android OS. X-50 применим для сплавов, экологического мониторинга и анализа почв на содержание тяжелых металлов, горно-геологических применений, связанных с добычей и переработкой полезных ископаемых, анализа лома драгметаллов и отходов электроники и др. Анализаторы могут быть откалиброваны на заводе по Фундаментальным Параметрам, Комптоновской нормализации (для EPA Method 6200) или использовать пользовательские эмпирические калибровки.

SciAps X-50 для анализа образцов на соответствие директивам RoHS и ТР ЕАЭС 037/2016

«Классическая» модель рентгено-флуоресцентного анализатора для множества применений за бюджетную цену

Области применения: Автокатализаторы, сплавы, геохимия, почвы, драгметаллы, RoHs.

X-50 оснащен полупроводниковым PiN детектором, эта технология была популярна в прошлом до появления кремниевых дрейфовых детекторов. Технология PiN обрабатывает сигналы от элементов в 10×20 раз хуже, чем кремниевые дрейфовые детекторы, и имеет разрешение, которое на 100 эВ меньше (большая ширина). Однако для многих применений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или анализ базовых или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках, анализ драгметаллов, баббитов, RoHS и.т.д технология PiN детектора является вполне достаточной. X-50 НЕ будет измерять Mg, Al или Si, а в некоторых материалах можно измерить P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения для некоторых элементов будут в 5 раз выше по сравнению с моделями анализаторов X c дрейфовым детектором SDD. Однако X-50 имеет привлекательную цену и отлично работает для многих задач. X-50 включает ту же самую современную рентгеновскую трубку, что и другие модели X-серии, (работающие с напряжением 50кВ), встроенную фото камеру и платформу Android OS. X-50 применим для сплавов, экологического мониторинга и анализа почв на содержание тяжелых металлов, горно-геологических применений, связанных с добычей и переработкой полезных ископаемых, анализа лома драгметаллов и отходов электроники и др. Анализаторы могут быть откалиброваны на заводе по Фундаментальным Параметрам, Комптоновской нормализации (для EPA Method 6200) или использовать пользовательские эмпирические калибровки.

Технические характеристики анализаторов SciAps X-200/X-50