РЕЖИМ РАБОТЫ В НОВОГОДНИЕ ПРАЗДНИКИ
29 декабря 2025 - до 16:00
30 декабря 2025 - до 16:00
31.12.2025 - 11.01.2026 - выходные дни
с 12 января 2026 - в обычном режиме
С Новым годом!
Атомно-силовой микроскоп BRISK является инструментом для исследований в области технологии наноструктур. Помимо визуализации топографии поверхности, микроскоп BRISK способен определять различные свойства образца в нанометровом масштабе, выполнять функцию наноманипулятора, проводить нанолитографию.
ОСОБЕННОСТИ:
- Упрощенная процедура визуализации: простота управления и уменьшение времени затрачиваемого на накопление изображения делают BRISK максимально удобным для пользователей;
- Оптическая навигация с высоким увеличением: выбор участка сканирования осуществляется с помощью встроенной оптической навигационной системы;
- Новое поколение электроники - улучшенная работа контроллера;
- Быстрый подвод зонда к образцу;
- Удобная процедура замены зонда: возможность надежно зафиксировать зонд в измерительной АСМ-головке в кратчайшие сроки;
- Совместимость с различными типами компьютеров: персональные компьютеры, ноутбуки, моноблоки;
- Небольшие компактные габариты микроскопа.
ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ:
- Контроль качества high-tech продукции;
- Солнечные батареи, полупроводники и интегральные микросхемы;
- Физика поверхности;
- Тонкие пленки и керамические технологии;
- Полимеры и химические технологии;
- Исследование наноразмерных механических и электрических свойств;
- Медицинские исследования;
- Биотехнологии.
| Технические характеристики | |
Сканер XY Сканер - Максимальный диапазон сканирования в плоскости XY 50 мкм - Разрешение в плоскости XY: 1 нм Z Сканер - Максимальный диапазон сканирования по оси Z: 4 мкм - Разрешение по оси Z: 0.1 нм | Электроника АЦП и ЦАП каналы - 4-х канальный АЦП 24 бит - 4-х канальный ЦАП 24 бит Обработка сигналов - Zynq-процессор 40 МГц Встроенные функции -100 МБит/с по LAN |
Столик образцов - Диапазон перемещений в плоскости XY: 15 мм - Шаг перемещения в плоскости XY 40 нм - Диапазон перемещения по оси Z: 15 мм - Шаг перемещения по оси Z: 40 нм - Функция автоматического подвода кантилевера к поверхности образца (Auto Fast Approach) | Программное обеспечение Получение изображений -100 Мбит/с в режиме реального времени, совместимость с Windows - Встроенные оптические смотровые окна для обзора образца и кантилевера - Автоматическое сохранение полученных изображений в галерее программного обеспечения - Сканирование выделенной области уже собранного изображения Работа с изображениями - Отдельная программа для обработки изображений, анализа и представления данных - Возможность экспорта различных данных с полученных изображений - Совместимость с ОС Windows |
Крепление образца - Максимальный диаметр образца: 20 мм - Максимальная толщина образца: ю мм - Имеется лёгкий магнитный держатель образца - Возможность подачи напряжения на образец в диапазоне от -10 В до + ю В | |
Оптическая система навигации - Цветное изображение, разрешение 8 Мп - Увеличение от 60 крат до 600 крат - Встроенная подсветка с регулятором | Управляющая станция - Core i5-72OOU CPU - 8 Гб DDR4 RAM - Монитор с диагональю 21 дюйм. 1920 х 1080 пике |
Измерительная головка - Высокоточный регулируемый микрометр - Длина волны лазера: 670 нм - Максимальная мощность лазерного диода 5 мВт - 4-х секционный фотодиод высокого качества - Функция дизеринга - Оптимизированная оптическая схема | Габариты и вес АСМ-модуля - 300 мм х 400 мм х 300 мм. 20 кг |
Аксессуары - Набор для крепления образца - Подложка для образца - Различные типы кантилеверов | Опции XY Сканер - Расширенный диапазон сканирования 100 um Набор для замены зондов - Вакуумный пинцет |
| Стандартные моды | |
| Контактная, Бесконтактная, Динамическая полуконтактная (Tapping) | |
| Функциональные комплекты | |
| Fly Kit | - Магнитно-силовая микроскопия (MFM) - Электростатическая силовая микроскопия (EFM) - Фазовый контраст |
| Pro Contact Kit | - Метод латеральных сил (LFM) - Силовая спектроскопия - Механическая нанолитография |
| Experts Kit | - Химическая нанолитография - Метод Модуляции Силы (FMM) - Проводящая атомно-силовая микроскопия (C-AFM) - Кельвин-Зондовая Силовая Микроскопия (KPFM) |
Отзывы
Характеристики
| Производитель: | Ara Research Co. |