НК-Прибор переезжает: новый адрес с 06 июля 2026 года!
Мы растём и развиваемся и в связи с этим переезжаем в новый, более удобный офис.
С 06 июля 2026 года ждём вас по адресу:
г. Ижевск, ул. Удмуртская, д. 268.
Оптимизированная технология измерения низких значений мутности Отсутствие мешающих влияний за счет использования запатентованного уловителя пузырьков Свободно сочетается с другими SC датчиками Напрямую подключается к контроллеру SC
Внимание - Заказ Аксессуаров по запросу.
Оптимизированная технология измерения низких значений мутности
Характеристики
| 1720E sc | FILTERTRAK 660E sc | ||
| Измерительный прибор | Микропроцессорный датчик мутности с самодиагностикой | ||
|
Метод измерения |
светорассеяние под углом 90° по USEPA 180.1 (вольфрамовая лампа накаливания белого света) |
в соответсвии с USEPA 10133 (лазер с длиной волны 660 нм) |
|
|
Диапазон измерения |
0.0001—100 NTU (FNU, TE/F, EMF) |
0.001—1000 mNTU (mFNU, mTE/F) |
|
|
Разрешение |
0.0001—9.9999/10.000—99.999 |
0.001 mNTU |
|
|
Время отклика |
6/30/60/90 сек, настраиваемое |
||
|
Компенсация пузырьков |
Механическая, через специальный уловитель пузырьков |
||
|
Калибровка |
Заводская калибровка; поверка по стандартам (ГСО или STABL CAL) |
||
|
Требования к образцу |
Минимальный поток 0.25 л/мин, макс. 0.75 л/мин |
||
|
Температура образца |
Макс. 50 °C |
||
|
Окружающая температура |
+ 2 °C ... + 40 °C |
||
|
Класс защиты |
NEMA 4X /IP66 |
||
|
Габариты |
Корпус и крышка 525 мм x 305 мм x 406 мм |
||
|
Вес |
4.54 кг |
||
|
Обслуживание |
1.5 ч/месяц |
||
|
Дисплей |
Контроллер SC 200 или SC 1000 |
||
С 06 июля 2026 года ждём вас по адресу:
г. Ижевск, ул. Удмуртская, д. 268.
29 декабря 2025 - до 16:00
30 декабря 2025 - до 16:00
31.12.2025 - 11.01.2026 - выходные дни
с 12 января 2026 - в обычном режиме
С Новым годом!