Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Jeol JCM 7000 NeoScope

Сканирующий электронный микроскоп Jeol JCM-7000 - это уникальный продукт, позволяющий значительно повысить эффективность проводимых исследований и уменьшить затраты на их проведение.

Области применения:

• Анализ металлов
• Анализ порошков
• Работа с печатными платами
• Контроль качества
• Ботаника
• Клеточная биология
• Фармакология и др.

Более подробно о применении микроскопа JCM-7000 для каждой области Вы можете прочитать во вкладке "Применение".

В основе работы микроскопа JEOL JCM-7000 лежит концепция "Easy-to-use" c непрерывной навигацией и анализом в режиме реального времени, которая включает в себя:

• Автоматический переход от оптического изображения к СЭМ изображению

• Отображение элементного состава в режиме реального времени одновременно с просмотром изображения

• Улучшенные автоматические функции, позволяющие получить чёткое изображение при любом увеличении

• Режим низкого вакуума (LV) для формирования изображения непроводящих образцов без предварительной подготовки

• Режим высокого вакуума (HV), позволяющий проводить детальное исследование морфологии

• Построение 3D модели (Live 3D) во время просмотра изображения

• Формирование отчёта на основе информации, полученной из оптического и СЭМ изображений, ЭДС-данных* и местоположения

Простая эксплуатация

Микроскоп JEOL JCM-7000 прост в обращении и обеспечивает:

• Автоматический захват оптического изображения при загрузке образца

• Простой поиск необходимой области измерения благодаря предметному столику с моторизованными приводом XY, наклоном и вращением

• Обработка данных нажатием одной кнопки

Простота обслуживания

Источником электронов в JEOL JCM-7000 служат вольфрамовый филамент и цилиндр Венельта. Электронная пушка данного СЭМ использует предварительно центрированный картридж с интегрированным цилиндром Венельта. Картридж заменяется целиком, это позволяет ускорить процесс и при этом сохранить правильное положение филамента. Кроме того, возможна замена филамента внутри картриджа.

В стандартном СЭМ при замене филамента требуется выравнивание оси электронного луча. Если не произвести данную регулировку, то будет сложно получить чёткое изображение. В JEOL JCM-7000 выравнивание оси луча полностью автоматизировано.

Функция Zeromag

JEOL JCM-7000 осуществляет плавный переход от оптического к СЭМ изображению. Просто найдите необходимую область обзора на оптическом изображении, а затем увеличьте нужный элемент для автоматического перехода к изображению СЭМ.

Отображение в режиме реального времени (Live 3D)

JCM-7000 отображает СЭМ и 3D изображения в режиме реального времени одновременно. Кроме того, для быстрого определения формы образцов со сложной топографией, могут быть получены данные об их толщине.

Благодаря анализу в режиме реального времени, наблюдение СЭМ и элементного ЭДС- анализа* больше не являются отдельными операциями. JCM-7000 также обладает функцией наблюдения за пространственным распределением элементов в моменте Live Map.

Микроскоп JCM-7000 в режиме реального времени осуществляет:

• Детальный анализ образца

• Автоматический качественный и количественный анализ полученного спектра

• Отображение карт распределения элементов области наблюдения

Экран управления данными (SMILE VIEW Lab)

Экран управления данными SMILE VIE Lab позволит вам с лёгкостью работать с информацией.

Особенности SMILE VIE Lab:

• Интегрированное управление Zeromag (оптическим изображением)/изображением СЭМ/результатами ЭДС анализа*

• Позволяет мгновенно определять данные в наблюдаемой области

• Разнообразные функции поиска данных

• Автоматическая установка правильного макета для выбранного типа данных

• Простая модификация макета

* Система ЭДС является дополнительным оборудованием